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픽셀 스케일링 트렌드

픽셀 피치 축소에 따른 핵심 성능 지표의 변화를 시각화합니다. 물리적 한계와 상용 센서 데이터를 비교하세요.

Pixel Scaling Trends

Explore how key sensor metrics scale with pixel pitch. Compare theoretical scaling laws against published sensor data.

Technology Node:
Full Well Capacity (ke⁻)
0.51.01.52.02.53.002040608010065nm40nm22nmIMX586IMX766IMX890IMX989IMX283Pitch (µm)
Max SNR (dB)
0.51.01.52.02.53.0253035404550IMX586IMX766IMX890IMX989IMX283Pitch (µm)
Nyquist Frequency (lp/mm)
0.51.01.52.02.53.02004006008001000Pitch (µm)
Diffraction QE (%)
0.51.01.52.02.53.0020406080100Pitch (µm)
FWC
10000 e⁻
Max SNR
40.0 dB
Nyquist
500 lp/mm
Diff. QE
28.3%
Dark Current @60°C
5.0 e⁻/s

스케일링 법칙

지표스케일링설명
FWC (풀웰 용량)∝ pitch²포토다이오드 면적에 비례
나이퀴스트 주파수∝ 1/pitch작은 픽셀 = 높은 해상도
SNR (최대)∝ pitch√FWC에 비례
회절 제한 QE에어리 디스크 vs 픽셀 면적작은 픽셀에서 급격히 감소

핵심 트레이드오프

  • 해상도 vs 감도: 피치 축소는 해상도를 높이지만 광자 수집 면적이 줄어 SNR 저하
  • 회절 한계: 픽셀이 에어리 디스크보다 작아지면 인접 픽셀로 에너지 누설
  • 실용적 하한: ~0.5μm 이하에서는 회절과 크로스토크가 심각하게 성능 제한

INFO

참조 데이터는 Sony IMX 시리즈 등 상용 센서 사양을 기반으로 합니다.