Skip to content

노이즈, SNR, 다이나믹 레인지

선수 지식

양자 효율신호 체인 → 이 페이지.

이 페이지의 범위

이 페이지는 COMPASS의 공식 노이즈 기준 문서입니다. 각 노이즈 소스, SNR, 풀웰 용량, 다이나믹 레인지, 광자 전달 곡선, 고정 패턴 노이즈(PRNU/DSNU), 암전류, 선형성을 정의합니다. 이 관계들을 시각화하는 인터랙티브 도구는 시뮬레이터 섹션에 있습니다.

픽셀의 신호는 그 위에 얹힌 노이즈에 상대적인 값일 때만 의미가 있습니다. 같은 QE 설계가 읽기 잡음, 적분 시간, 동작 온도에 따라 훌륭하게도, 사용 불가능하게도 보일 수 있습니다. 이 페이지는 COMPASS와 브라우저 시뮬레이터 전반에서 사용되는 표준 노이즈 모델을 정리합니다.

신호 모델

적분 시간 tint 동안 픽셀에 입사한 광자 수를 Nph라 하면, 수집된 신호(전자 단위)는

N=QENph+Id(T)tint

이고, Id(T)는 온도 T에서의 암전류(전자/초)입니다. 첫 항은 광생성 전하, 둘째 항은 열적 생성 전하입니다. 풀웰 용량(FWC)은 N의 상한이며 이를 넘으면 픽셀이 포화됩니다.

노이즈 소스

총 노이즈는 통계적으로 독립인 기여의 직교 합입니다:

σtotal2=σshot2+σdark2+σread2+σPRNU2+σDSNU2

샷 노이즈 (광자 노이즈)

광자 도착은 Poisson 분포이므로 평균 신호 N 전자에 대해

σshot=N

샷 노이즈는 근본적이며 센서 설계로 줄일 수 없습니다 — 광자를 더 모으는 방법(픽셀 크기 증가, 노출 시간 증가, QE 향상)만 가능합니다.

암전류 노이즈

암전류도 Poisson:

σdark=Id(T)tint

암전류는 Arrhenius 의존성을 가집니다:

Id(T)T3/2exp(Eg2kBT)

여기서 Eg1.12 eV(실리콘). 흔히 쓰는 실무 규칙은 온도가 6–8 °C 오를 때마다 암전류가 대략 두 배가 된다는 것입니다. 따라서 20 °C 냉각 시 암전류는 약 8× 감소합니다.

읽기 잡음

읽기 잡음 σread은 readout 체인(소스 팔로워, 컬럼 앰프, ADC)이 더하는 잡음이며 신호와 거의 무관합니다. 저조도에서 지배적입니다.

고정 패턴 노이즈: PRNU와 DSNU

고정 패턴 노이즈(FPN)는 프레임마다 변하지 않는 픽셀-픽셀 변동입니다.

PRNU (광응답 비균일성) 은 신호에 비례하는 게인 변동:

σPRNU=uPRNUN

으로 현대 센서에서 uPRNU0.5%2%. 마이크로렌즈 정렬, 포토다이오드 도핑, 픽셀 형상의 변동에서 발생합니다.

DSNU (암신호 비균일성) 은 신호와 무관한 오프셋 변동:

σDSNU=constant in e RMS

결정 결함이나 계면 트랩에 의한 픽셀별 암전류 편차로 발생합니다.

총 FPN:

σFPN=σPRNU2+σDSNU2

FPN은 픽셀별 플랫 필드와 다크 프레임 보정으로 부분적으로 제거 가능하며, 잔차가 균일도가 중요한 응용의 하한이 됩니다.

신호 대 잡음비

신호 레벨 N에서의 SNR:

SNR(N)=Nσread2+N+(uPRNUN)2

(필요 시 암전류와 DSNU를 read 항에 흡수). 세 영역으로 나뉩니다:

영역지배 잡음SNR 스케일링
저조도읽기 잡음SNRN
중간샷 노이즈SNRN
고신호PRNUSNR 포화 (1/uPRNU)

로그 스케일 표기:

SNRdB=20log10(Nσtotal)

대표 기준점: SNR = 0 dB(신호=잡음, 절대 검출 한계), SNR = 20 dB(허용 화질 최소 기준으로 자주 사용), 샷 노이즈 한계 시 SNRmax=FWC (PRNU 무시).

풀웰 용량과 다이나믹 레인지

FWC는 픽셀이 포화 전에 보유할 수 있는 최대 전자 수이며 픽셀 면적에 비례:

FWCpitch2

다이나믹 레인지(DR)는 FWC와 최소 적분 시 노이즈 플로어의 비:

DRdB=20log10(FWCσfloor),σfloor=σread2+Id(T)tint

스톱 단위: DRstops=DRdB/6.02. 다중 노출 HDR은 긴 노출(섀도용)과 짧은 노출(하이라이트용)을 결합하여 DR을 확장합니다:

DRHDR=20log10(FWCrσfloor)

r은 노출 비. 확장폭은 프레임 간 모션 아티팩트로 제한됩니다.

광자 전달 곡선 (PTC)

PTC는 총 노이즈와 평균 신호를 로그-로그 스케일로 플롯한 것으로, 측정으로부터 컨버전 게인, 읽기 잡음, FWC, PRNU를 추출하는 표준 방법입니다. 세 영역이 보입니다:

영역로그-로그 기울기추출 파라미터
평평한 플로어0읽기 잡음 σread
샷 노이즈1/2컨버전 게인 K (σ2=KS에서)
PRNU1uPRNU

총 분산 모델:

σtotal2=σread2+N+(uPRNUN)2

영역 간 교차점도 진단 정보입니다: read–shot 교차점이 높으면 읽기 잡음 과다, shot–PRNU 교차점이 낮으면 제조 균일도 부족.

응답도

분광 응답도는 QE를 전기적 지표로 변환:

R(λ)=QE(λ)qλhcQE(λ)λnm1240  [A/W]

λ/1240 인자로 인해 응답도 피크가 QE 피크보다 장파장 쪽으로 이동합니다. 이상적 실리콘 포토다이오드(QE = 1)는 Rideal(λ)=λnm/1240.

선형성

이상적 전달 함수는 선형: DNideal=(N/FWC)DNmax. 실제 센서는 소스 팔로워 비선형성, 전압 의존 접합 캐패시턴스, ADC INL로 인해 편차가 발생합니다. 표준 지표:

NL(%)=max|DNactualDNideal|DNmax×100

대부분의 머신 비전 응용은 NL < 1%, HDR 머징과 광량 측정은 < 0.5% 요구.

브라우저 시뮬레이터

다음 인터랙티브 도구가 위 식을 시각화합니다: